Formación

Congreso Internacional De Metrologia - Metrocol IV

DÍA 1 - MEMORIAS

CONFERENCISTA

Perspectivas del SIM en la transición hacia la redefinición del Sistema Internacional de Unidades - SI 
Dr. Alan G. Steel 
Director de investigación National Research Council Canada - NRC

"Definition and realization of the new Kelvin"
Dr. Roberto Gavioso 
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia - INRiM 

 Relanzamiento de las guías de Calibración. 
ONAC - INM
 Optimización del sistema óptico del reloj atómico Brasilero-BrCsF1. 
Andres David Rodriguez 
Universidad Antonio Nariño
Evaluación del efecto de carga en la caracterización de cámaras climáticas. 
Andrés Bohórquez
INM 
 Estudio del efecto de parámetros colorimétricos en el cálculo de incertidumbre de la medición de la Temperatura de Color Correlacionada (CCT) de las fuentes de luz.
LABE - Laboratorio de Ensayos Eléctricos – Universidad Nacional de Colombia.
 “Redefinition of the mole and the impact that this would have on future measurements”. 
Dr. Juris Meija NRC
Caracterización de una cámara digital para la medición de luminancia en vías.
Universidad Nacional de Colombia
Laboratorio de Ensayos Eléctricos Industriales. 

DÍA 2 - MEMORIAS

 CONFERENCISTA

Metrología de las Radicaciones  Ionizantes en Colombia
Físico Camilo Calderón
Ing. Wilson Moreno
Físico Julián Niño
LSCD SGC

Dr. Roberto Gavioso 
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia - INRiM 

José Eduin Culma 
Instituto Nacional de Metrología

Dr. Juris Meija
National Research Council Canada NRC

Luis Alfredo Chavarro 
Subdirector de Metrología Química y Biomedicina - INM 
Juan Camilo López Restrepo 
Universidad Tecnológica de Pereira

 


 

Programación sujeta a cambios.                                                                  Descarga de Programa.

DÍA 1 

HORA CONFERENCIA CONFERENCISTA
08:00 a 08:30 REGISTRO  

08:30 a 08:40 Introducción a evento Maestro de ceremonias
08:40 a 09:00 Palabras de bienvenida Dr. Edwin Cristancho 
Director INM
09:00 a 09:10 Contexto de Metrología en el marco de la regulación. Maria Leonisa Ortíz 
Directora de regulación
09:10 a 09:20 Laboratorios acreditados y metrología. Ramón Madriñan 
Director ejecutivo
09:20 a 10:10 Perspectivas del SIM en la transición hacia la redefinición del Sistema Internacional de Unidades - SI Dr. Alan G. Steel 
Director de investigación National Research Council Canada - NRC
10:10 a 10:30  RECESO  
10:30 a 11:20  "Definiton and realization of the new Kelvin" Dr. Roberto Gavioso 
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia - INRiM
11:20 a 11:40  Trabajo externo Conferencista externo
11:40 a 12:00  Evaluación del efecto de carga en la caracterización de cámaras climáticas Ingeniero Sergio Carvajal Instituto Nacional de Metrología de Colombia
12:00 a 12:10 Sesión preguntas de Ponencias  
12:10 a 13:40   ALMUERZO LIBRE  
13:40 a 14:30 Redefinición de la unidad de corriente eléctrica “ampere” Dr David Avilés Castro 
Centro Nacional de Metrología México - CENAM
14:30 a 15:00 Trabajo externo Conferencista externo
15:00 a 15:20  RECESO  
15:20 a 16:20  “Redefinition of the mole and the impact that this would have on future measurements” Dr. Juris Meija National Research Council Canada - NRC
16:20 a 16:50  Trabajo externo Conferencista externo
16:50 a 17:00  Cierre de jornada Maestro de ceremonias

DÍA 2

 HORA  CONFERENCIA  CONFERENCISTA
 08:00 a 08:20  REGISTRO  
 08:20 a 08:30  Apertura jornada Maestro de ceremonias
 08:30 a 09:00  Implementación de una metodología de medición de los coeficientes de resistencia al movimiento para vehículos en Colombia Juan Camilo López Restrepo 
Universidad Tecnológica de Pereira
 09:00 a 09:50  Realización de la nueva definición del ampere Dr David Avilés Castro 
Centro Nacional de Metrología México
 09:50 a 10:20  Trabajo externo Conferencista externo
 10:20 a 10:30  Respuesta a la Solicitud de reconocimiento como “Centro de Investigación” Sonia Monroy Subdirectora 
COLCIENCIAS
 15:00 a 15:20  RECESO  
 10:50 a 11:20 Foro: Impacto de la metrología química en el sector productivo, la academia y la investigación

Moderador: 
Diego Alejandro Ahumada 
Instituto Nacional de Metrología 

Participantes: 
Dr Elena Stashenko 
Universidad Industrial de Santander

Dr Katalina Muñoz Durán 
Directora de investigación Centro de investigación en nutrición, salud y bienestar

Dr Juris Meijer 
National Research Council Canada-NRC

Dr Camilo Jiménez 
Universidad Javeriana

 11:20 a 11:50 Foro: Impacto de la metrología física en el sector productivo, la academia y la investigación

Moderador: 
Alexander Martínez
Instituto Nacional de Metrología

Participantes:
Dr Daniel Duque ARGOS

Dr David Avilés Castro  CENAM

Dr María Cristina Plazas Universidad Nacional

Dr Eduardo Posada Asociación Colombiana para el Avance de la Ciencia

Dr Ramón Madriñan ASOSEC

 11:50 a 12:40  “Traceability in chemical measurements from the perspective of not just the physical traceability of methods and standards but focus on the traceability in data analysis”

Dr. Juris Meija
National Research Council Canada NRC

 12:40 a 14:00  ALMUERZO LIBRE  
 14:00 a 14:20  Automatización en metrología para el INM de Colombia José Eduin Culma 
Instituto Nacional de Metrología
 14:20 a 14:40  Proyecciòn de la Metrología química en el INM Luis Alfredo Chavarro 
Subdirector de Metrología Química y Biomedicina - INM
 14:40 a 15:00  Sesión preguntas de Ponencias  
 15:30 a 15:50  RECESO  
 15:50 a 16:40  "Future perspectives of thermometry and gas metrology" Dr. Roberto Gavioso 
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia - INRiM
 16:40 a 17:00  Cierre de jornada Maestro de ceremonias

 


 

EXPERTOS INVITADOS

 

 

ES

 

Nombre: Alan Steele, PhD FRSC

Institución: National Research Council of Canada

Cargo: Director General, NRC Metrology

Resumen de sus logros y contribuciones:

 

EN

Nombre: Alan Steele, PhD FRSC

Institución: National Research Council of Canada

Cargo: Director General, NRC Metrology

Resumen de sus logros y contribuciones:

 


ES 

Nombre: DrJuris Meija

Institución: National Research Council Canada (NRC)

Cargo: Research Officer at NRC

Resumen de sus logros y contribuciones:

Bibliografía (fuente Scopus):

EN

Nombre: DrJuris Meija

Institución: National Research Council Canada (NRC)

Cargo: Research Officer at NRC

Resumen de sus logros y contribuciones:

Bibliographic summary of J. Meija (source Scopus):


ES

Nombre: DrRoberto Gavioso

Institución: National Metrological Institute of Italy (INRiM)

Cargo: Investigados Científico Senior INRiM

Resumen de sus logros y contribuciones:

Bibliografía R. M. Gavioso (Fuente Web of Science):

EN

Nombre: DrRoberto Gavioso

Institución: the National Metrological Institute of Italy (INRiM)

Cargo: senior research scientist at INRiM

Resumen de sus logros y contribuciones:

Bibliographic indicators of R. M. Gavioso (source Web of Science):


 

DavidAvilesES

Nombre: DrDavid Avilés

Institución: Centro Nacional de Metrología de México (CENAM)

Cargo: Coordinador Científico de Metrología Eléctrica

Resumen de sus logros y contribuciones:

EN

Nombre: DrDavid Avilés

Institución: Centro Nacional de Metrología of Mexico (CENAM)

Cargo: Scientific Coordinator of Electrical Metrology

Resumen de sus logros y contribuciones:

 


 

Invitación a las personas interesadas en asistir y participar con trabajos técnicos en el CONGRESO INTERNACIONAL DE METROLOGIA - METROCOL IV.



Temática:
El sistema internacional de unidades en evolución constante.

Fecha: 01 y 02 de noviembre de 2018

Hora: 08:15 - 17:00

Lugar: Auditorio INM Bogotá, Colombia

Objetivo: Dar a conocer trabajos de investigación de nuevos métodos de medición,

Ten en cuenta las Temáticas de Trabajo:

La participación no tiene costo, cupos limitados.

Anímate a presentar tus trabajos técnicos, fecha límite de inscripción 15 de octubre de 2018, debes solicitar los requerimientos del modelo al correo de contacto Esta dirección de correo electrónico está protegida contra spambots. Usted necesita tener Javascript activado para poder verla. .

La participación no tiene costo, cupos limitados